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제3회 연구장비전문가 자격검정 시행계획 통합공고(~10.16.)
  • 작성자

    서화정

  • 작성일

    2017-07-20

  • 조회수

    8524

한국기초과학지원연구원(KBSI)에서는 연구장비의 효율적 관리 및 활용도 제고와 연구장비 운용인력을 전문직으로 정착시키기 위하여 경쟁력을 갖춘 전문교육과 자격제도를 운영중에 있습니다.

이와 관련하여 다음과 같이 제3회 연구장비전문가 자격검정을 시행하고자 하오니 학생 여러분들의 많은 참여를 바랍니다.

- 아 래 -

가. 공고내용 : 5개 연구장비전문가 자격의 검정 시행계획 통합공고

나. 시험시행 일정

구 분

원 서 접 수 기 간

시험장소

시행지역

시 험 일 자

합격자발표

필기시험

2017.8.1.(화) 09:00 ~ 2017.8.29(화) 18:00

홈페이지 게재

(2017.9.1.(금))

대전

2017.9.16.(토)

2017.9.25(월)

구술시험

2017.9.25.(월) 09:00 ~ 2017.10.16(월) 18:00

2017.11.4.(토) ~ 2017.11.18.(토)

2017.12.1(금)

다. 응시자격 종류 및 검정방법

자격명

검정과목

검정방법

현미경분석

연구장비전문가

(4과목)

주사 전자현미경(SEM)

○ 필기시험

- 형 태 : 객관식(4지선다형)

- 문 항 수 : 80문항(자격별)

- 시험시간 : 120분(자격별)

 

 

 

○ 구술시험

- 형 태 : 심층면접

- 시험시간 : 60분(자격별)

 

 

 

 

투과 전자현미경(TEM)

주사 탐침현미경(SPM)

공초점 레이저현미경(CLSM)

분리분석

연구장비전문가

(5과목)

액체 크로마토그래프(LC)

기체 크로마토그래프(GC)

이온 크로마토그래프(IC)

액체 크로마토그래프 질량 분석기(LC/MS)

기체 크로마토그래프 질량 분석기(GC/MS)

분광분석

연구장비전문가

(5과목)

자외선·가시광선 분광 광도계(UV/Vis)

푸리에변환 적외선 분광기(FT-IR)

핵자기 공명 분광기(NMR)

원자흡수광도계(AAS)

유도결합 플라즈마 질량 분석기(ICP/MS)

엑스선분석

연구장비전문가

(3과목)

엑스선 형광 분석기(XRF)

엑스선 광전자 분광기(XPS)

엑스선 회절 분석기(XRD)

물성분석

연구장비전문가

(3과목)

열 분석기(TA)

입도 분석기(PSA)

원소 분석기(EA)

 

라. 응시자격

- 연구장비 관련 1년 이상의 교육과정 이수자

- 연구장비엔지니어양성교육과정 수료자 또는 동 교육 과정생 중 교육 진도 60% 이상 참여자

- 고등학교 졸업 후 장비운영경력 3년 이상자

- 이공계 대학교 졸업 후 장비운용경력 1년 이상자

- 이공계 대학원 4학기 재학 이상인 자

마. 필기시험 면제기준

- 연구장비엔지니어양성과정 기 수료생 중 「일반교육과정」이수평가 점수가 80점 이상인 자(단, 최초시험 결과를 기준으로 함)

- 이공계 출연(연), 대학 공실관 및 공동기기원, 테크노파크 등 국가 연구 장비 집적화 시설의 「연구시설·장비전담인력 중 응시분야의 2개 장비 이상 운영경력이 각각 3년 이상인 자 (단, 민간기관 소속인력은 해당 장비 관련 분야 운영경력 5년 이상인 자)

- 분석과학 교육을 전문으로 하는 대학원의 박사수료 이상 자 또는 석박사 통합과정인 경우 8학기 재학 이상인 자

- 전회 차 자격검정 필기시험 합격자가 동일분야로 금회 차에 응시하는 경우

바. 합격기준

- 필기시험 및 구술시험 합격기준 : 자격별 100점 만점에 평균 60점 이상

 

붙 임 : 제3회 연구장비전문가 자격검정 시행계획 통합공고 1부. 끝.